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粉体学-粒径的测定办法(筛分法、显微镜法、库尔特计数法、沉降法、比外表积法)

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1 、显微镜法 本法次要测定多少学粒径。光学显微镜可以测定微米级的粒径,电子显微镜可以测定纳米级的粒径。本法利便、牢靠,能用于测定散剂、混悬剂、乳剂、混悬型软膏剂等粉体粒径,可测粒径范畴为 0.2 ~100μm。

2 、筛分法 其是粒径与粒径散布丈量中利用zui早、使用zui广,且复杂疾速的办法。即使用筛孔将粉体机器拦截的一种分级办法。将筛子由粗到细按筛号次序上下分列,将肯定量的粉体样品置于zui下层,振动肯定工夫,称量各个筛号上的粉体分量,求得各筛号上的差别孔径分量百分数,由此取得以分量为基准的筛分粒径散布及均匀粒径。

3 、库尔特计数法 本法测得的粒径为等体积球相称径,可以求得以个数为基准的粒度散布或以体积为基准的粒度散布,通常可用于测定粉末**、混悬液、乳剂、脂质体等制剂,也可用于注射剂的不溶性微粒反省。

4 、沉降法 是经过监测混悬液粒子的沉降速率,使用粒子在液体介质中的沉降速率与粒子巨细的干系,即Stocks 定律,来测定粒子无效径的办法。

5 、比外表积法 使用粉体的比外表积随粒径的增加而敏捷增长的原理,经过粉体层中比外表积的信息与粒径的干系求得均匀粒径的办法。

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